\ Продукция \ Зондовые микроскопы \ ФемтоСкан Крио


















Условия использования
Заявление о конфиденциальности

ФемтоСкан Крио -
многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп.
Предназначен для наблюдения морфологии поверхности и локальных свойств образцов с субнанометровым пространственным разрешением.


Зондовая микроскопия в интервале температур 1,8 К- 350 К

- атомно-силовая микроскопия
- сканирующая туннельная микроскопия
- сканирующая резистивная микроскопия
- электростатическая микроскопия
- магнитно-силовая микроскопия
- нанолитография
- дистанционное управление экспериментом
- оптическая микроскопия с передачей данных через Интернет


Технические параметры

Криогенная система
Интервал температур, K 1,8 - 350
Диаметр шахты криостата, мм 40
Объем гелиевого резервуара, л 2,2
Объем азотного резервуара, л 2,5
Точность поддержания температуры в интервале 4 - 40, K* ±0,04
Точность поддержания температуры в интервале 40 - 300, K ±0,2
Время захолаживания (до 4,2 K), мин 30
Расход гелия на захолаживание до 4,2 K, л 1,4
Время замены образца, мин 5
Потребление гелия при 4,2 K, л/час <0,1
Время работы системы при 1.8 К, ч. 4
Вес системы, кг 12

Зондовые микроскопы

 

Система прецизионного сканирования:
Сканер FSS-3:
размер области сканирования — до 3 мкм
минимальный размер шага — 0,01 нм
максимальная скорость сканирования — 30 Гц
типичный температурный дрейф — не более 0,1 нм/сек
Сканер FSS-15:
размер области сканирования — до 15 мкм
минимальный размер шага — 0,03 нм
максимальная частота сканирования — 30 Гц
типичный температурный дрейф — не более 1 нм/сек

расположение образца – горизонтальное
размеры образца — до 10 мм в диаметре и до 5 мм по высоте
сближение образца с зондом — строго поступательное в вертикальном направлении (без боковых смещений)
начальное сближение с помощью шагового двигателя на расстояние до 4 мм
величина шага начального сближения 30 нм

Головка сканирующего туннельного микроскопа
Режимы туннельной микроскопии: измерения в режимах постоянной высоты, постоянного туннельного тока, туннельной спектроскопии
Измерение зависимостей I(U), I(Z) в выбранных точках


Разрешение – атомное на высокоориентированном пиролитическом графите
Диапазон регистрации туннельного тока — 50 пА-50 нА
Диапазон изменения напряжения — ±10 В

Головка атомно-силового микроскопа
Режим атомно-силовой микроскопии
Измерения в режимах постоянной высоты, постоянной силы, сил трения (разрешение молекулярное на слюде).
Измерения в модуляционных режимах

Головка магнитно-силового микроскопа
Режимы двухпроходной методики для контактной и резонансной мод
Чувствительность по силе – до 10-11 Н
Пространственное разрешение одиночных магнитных доменов
Работа с кантилеверами с различными магнитными покрытиями
Одновременная запись данных о топографии поверхности и магнитном профиле.

Электронная система сбора данных
12 каналов ЦАП (16 бит, 10 мкс), два восьмиканальных АЦП (16 бит, 10 мкс). Цифровая обратная связь на сигнальном процессоре. Встроенный синтезатор частоты (0,01 Гц – 10 МГц).

Программное обеспечение
Программное обеспечение управлением микроскопа (программа-мастер) и обработки изображений (программа-клиент) написано для операционной системы Windows XP.
Программа-клиент имеет множество различных функций, предназначенных для обработки и анализа изображений зондовой микроскопии. Подробный перечень реализованных функций представлен на сайте www.nanoscopy.net.