\ Продукция \ Зондовые микроскопы \ ФемтоСкан


















Условия использования
Заявление о конфиденциальности

ФемтоСкан - многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп с полным управлением через Интернет

Реализовано более 50 различных режимов сканирующей зондовой микроскопии, в том числе:
  • контактная атомно-силовая микроскопия
  • резонансная атомно-силовая микроскопия
  • бесконтактная атомно-силовая микроскопия
  • сканирующая фрикционная микроскопия
  • сканирующая туннельная микроскопия
  • туннельная спектроскопия
  • сканирующая резистивная микроскопия
  • электростатическая микроскопия
  • магнитно-силовая микроскопия
  • силовое картирование поверхности
  • нанолитография
  • и другие


А также:

  • Оптическая микроскопия с передачей данных через Интернет
  • Измерения на воздухе и в жидкости
  • Регулируемый нагрев температуры образца

Техническое описание микроскопа ФемтоСкан
Технические параметры микроскопа ФемтоСкан

Спецификации сканирующего зондового микроскопа ФемтоСкан

Основные особенности СЗМ ФемтоСкан
Строго вертикальное начальное сближение зонда/образца
Начальный подход — шаговый двигатель
Диапазон начального подхода — до 4 мм
Величина шага начального сближения— 30 нм
Типичный тепловой дрейф —меньше 1 нм/с
Положение образца — горизонтальное
Размер образца — до 15 мм в диаметре, 5 мм в высоту
Размер сканирования — 2 m или 10 m
Частота сканирования — до 30 Гц
Закрепление образца — с помощью магнитного держателя

Режим туннельной микроскопии
Измерения в режимах постоянной высоты, постоянного туннельного тока, туннельной спектроскопии
Измерение зависимостей I(U), I(Z) в выбранных точках
Диапазон регистрации туннельного тока: 10 pA - 10 nA, 0.1 pA - 1 nA (опционально)
Диапазон изменения напряжения ±9 V
Разрешение на высокоориентированном пиролитическом графите — 0.2 нм

Режим атомно-силовой микроскопии
Измерения в режимах постоянной высоты, постоянной силы, сил трения
Измерения в модуляционных режимах
Резонансная мода (полуконтакт)
Разрешение на слюде: 0.4 нм

Режим сканирующей резистивной микроскопии
Режим предназначен для получения картины распределения электрической проводимости поверхности образца одновременно с регистрацией рельефа поверхности.
Разрешение: 1 нм
Электрический ток: 300 пA - 0.3 мкA
Диапазон измерения контактного сопротивления: 1 кОм – 10 МОм

Блок электроники ФемтоСкан
Контроль данных и обратной связи осуществляется цифровым сигнальным процессором с частотой 133 MHz для арифметический операций
Максимальное напряжение X, Y, и Z высоковольтных усилителей ±135 V
7 16-битовых ЦАП с временем установления в 10 мкс для X, Y, Z, и напряжения, 3 опциональных ЦАП
2 частотных генератора, разрядностью в 32 бита
2 встроенных 16-битных АЦП с временем установления в 10 мкс
Усилитель туннельного напряжения с диапазоном выходного сигнала : ±10 V

Нагреватель образца ФемтоСкан (опционально)
Температурный диапазон — до 80 oC
Точность температуры — 0,05 oC
Температурный дрейф в течение нагревания(максимальный) — 100 нм/ oC (вертикальное направление),
40 нм/ oC (боковое направление)